英集芯申请芯片FT测试中的开尔文测试方法专利，提高芯片测试效率

金融界2025-01-18

金融界2025年1月18日消息，国家知识产权局信息显示，深圳英集芯科技股份有限公司申请一项名为“一种芯片FT测试中的开尔文测试方法”的专利，公开号CN 119310331 A，申请日期为2024年9月。专利摘要显示，本发明公开了一种芯片FT测试中的开尔文测试方法，应用于FT测试电路，所述FT测试电路包括系统拉载电路、电阻R1、模拟接触阻抗R2、模拟接触阻抗R3、采样电阻R4、开关S1和外部运放U1...

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