路透东京12月17日 - 日本日经指数周二回吐早盘涨幅收低，因在美国和日本央行公布政策决策之前，市场普遍持谨慎态度，芯片股爱德万测试对日经指数的打压最大。
日经指数 .N225 收盘下跌 0.24%，报 39,364.68 点，盘中一度上涨多达 0.86%，受隔夜纳斯达克指数上涨支撑。
芯片测试设备生产商爱德万测试(Advantest) 6857.T下跌 9.3%，该股往往与人工智能相关芯片生产商的股价走势一致。
“日经指数稍早跟随美国科技股走高，但势头不够强劲，因投资者在日本和美国政策决定前持谨慎态度，”大和证券资深策略师Kentaro Hayashi表示。
“随着爱德万测试的下跌，该指数逆转了走势。”
东证股价指数.TOPX下跌 0.37%，至 2,728.2 点。
美国股市纳斯达克指数周一创下收盘纪录新高，标普500指数也上涨，投资者在衡量最新经济数据的同时，等待美联储在本周晚些时候宣布今年的最后一次政策决定，以判断利率路径。.NCN
美联储将于周三结束为期两天的政策会议，根据芝商所的FedWatch工具，市场预计降息25个基点的可能性为95.4%。
日本央行将于周四宣布政策决定，大多数经济学家预计日本央行将维持利率在0.25%不变。掉期利率显示加息25个基点的可能性为 21.7%。 0#JPYIRPR
软银集团9984.T上涨4.42%，此前美国当选总统特朗普称，软银将在未来四年内向美国投资1,000亿美元。(完)
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(编审 艾茂林)
((amy.ai@thomsonreuters.com; 86-10-56692080;))
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