博硕科技获得发明专利授权：“一种电子元件智能老化测试系统”

证券之星消息，根据企查查数据显示博硕科技（300951）新获得一项发明专利授权，专利名为“一种电子元件智能老化测试系统”，专利申请号为CN202410425973.3，授权日为2024年7月16日。

专利摘要：本发明涉及电子元件测试技术领域，具体为一种电子元件智能老化测试系统，系统包括：非线性衰减行为识别模块、应力模拟与效应分析模块、衰减模式动态建模模块、性能预测与失效分析模块、机器学习增强预测模块、老化路径优化模块、失效点定位模块。本发明中，采用的非线性衰减行为识别模块能准确捕捉老化过程中的异常衰减模式显著提升老化测试的精度和效率，机器学习增强预测模块通过分析性能与失效预测数据，映射电子元件的老化行为和失效风险，优化预测模型，进一步提高预测的准确性，结合使用技术手段，使得系统不仅能够准确预测电子元件的性能衰减和失效点，还能为制造商提供针对性的改进策略，显著提高电子元件的可靠性，延长使用寿命。

今年以来博硕科技新获得专利授权22个，较去年同期增加了46.67%。结合公司2023年年报财务数据，2023年公司在研发方面投入了1.04亿元，同比增54.05%。

数据来源：企查查

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